平成22年度 長野県精密加工技術研究会 技術講習会

新設 高分解能走査電子顕微鏡(FE-SEM)の概要紹介

-(独)カールツァイスSEM(GEMINI)の特徴を理解する-

講師:エスアイアイ・ナノテクノロジー(株)
 技術顧問 土屋 康夫  氏

平成22年8月10日(金) 14:00〜16:00
長野県工業技術総合センター 精密・電子技術部門

 


■概要


昨年度の長野県の新経済対策「くらし・地域力向上プロジェクト」で、長野県工業技術総合センター精密・電子技術部門に高分解能電子顕微鏡システム(http//www.gitc.pref.nagano.lg.jp/pdf/gijutujoho287.pdf) が導入されました。このシステムの中心は、日本国内に未だ5台しか導入されていない極めて高性能なもので、極低加速電圧走査電子顕微鏡と呼ばれるもので す。この特長は、高解像度であることと、いままで不可能であった導電性のないものや磁性材料も観察可能なことです。この設備の紹介は本年5月中旬に広く県 内企業様向けに実施致しましたが、今回は、その内容を当研究会向けに改編し精密加工分野に限って開催致します。皆様にご参加を頂きたくご案内申し上げま す。


(講習会参加案内より)



■内容および講師

日時 2010.8.10 14:00〜16:00
内容 講演(電子顕微鏡の原理、特長、精密加工分野への適用例ほか)
装置による実演(工具刃先、切削面観察ほか)

講師 講師:エスアイアイ・ナノテクノロジー(株)
 技術顧問 土屋 康夫  氏

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■講演内容


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当日の資料はこちら(会員のみ)


2010/6/26